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NIM nanosystems initiative munich
Veranstaltung

26.01.2018

Reliability of hexagonal boron nitride dielectric stacks for CMOS applications

Prof. Mario Lanza, Institute of Functional Nano & Soft Materials, Soochow University, China

Sprecher: Prof. Opens external link in new windowMario Lanza, Institute of Functional Nano & Soft Materials, Soochow University, China

Termin: Freitag, 26. January 2018, 12:00 Uhr

Veranstaltungsort: Seminarraum EG 0.001, Zentrum für Nanotechnologie und Nanomaterialien (ZNN), Am Coulombwall 4a, Garching


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